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  • 产品技术资料 文献编号: 发布日期
    DSA8300 产品技术资料
    DSA8300 是一款先进的等效时间采样示波器,为通信信号分析、串行数据网络分析以及串行数据链路分析应用提供业内领先的保真测量和分析功能。
    85C-26988-21
  • 手册 手册类型 部件号: 发布日期
    DSA8300 快速入门用户手册

    数字串行分析仪 Quick Start User Manual

    主要用户 071295005
    DSA8300 快速入门用户手册

    数字串行分析仪 Quick Start User Manual

    主要用户 071295004
    DSA8300 快速入门用户手册

    数字串行分析仪 Quick Start User Manual

    主要用户 071295002
    DSA8300 快速入门用户手册

    数字串行分析仪 Quick Start User Manual

    主要用户 071295001
    DSA8300 快速入门用户手册

    数字串行分析仪 Quick Start User Manual

    主要用户 071295000
    EOS and ESD Prevention System for Tektronix Electrical and Optical Sampling Modules

    Tektronix wants you to get the best possible value from your Tektronix sampling module. Our research of customer test processes resulted in our design of the EOS/ESD Protection System. These instructions provide information on how to use this system.

    用户 071376300
    DSA8300 and 80A00, 80C00, 80E00, 80N01, 80X00, 82A00 Sampling Modules

    Declassification and Security

    解密 077057604
    DSA8300 and 80A00, 80C00, 80E00 Sampling Modules

    Performance Verification

    性能验证 077068205
    DSA8300 Digital Serial Analyzer, 80C00/80E00/80A00 modules

    Specifications

    性能验证 077057105
    DSA83UP

    Upgrades for DSA8300 Instrument

    现场安装说明 075103703
    80SJNB

    Jitter, Noise, BER, and Serial Data Link Analysis Software for DSA8300; Help file (PDF)

    主要用户 077064105
    DSA8300

    Printable Application Help

    联机帮助 077056904
    DSA8300

    Digital Serial Analyzer

    程序员 077057006
    80SJNB

    Jitter, Noise, BER, and Serial Data Link Analysis Software for DSA8300; Help file (PDF) Online Help

    主要用户 077064104
    80SJNB

    Jitter, Noise, BER, and Serial Data Link Analysis Software for DSA8300; Printable Online Help Online Help

    主要用户 077064103
    80SJNB

    主要用户 077064102
    DSA8300

    Performance Verification Technical Reference

    性能验证 077068200
    DSA8300

    Digital Serial Analyzer and Modules Service Manual

    维修 077057201
    80SJNB

    Jitter, Noise, BER, and Serial Data Link Analysis Software for DSA8300; Printable Online Help Online Help

    主要用户 077064101
    DSA8300 and Sampling Modules

    Performance Verification Technical Reference

    性能验证 077068202
    80X01 and 80X02

    Electrical Sampling Module Extender Instructions

    现场安装说明 071320600
    DSA8300 Digital Serial Analyzer

    Practices for Measurements on 25 Gb/s Signaling Application Note Other

    培训/教程 071320701
    DSA8300

    Digital Serial Analyzer Programmer Manual

    程序员 077057003
    DSA8300 Series

    Digital Serial Analyzer Quick Start User Manual

    主要用户 071289703
    DSA8300

    Printable Application Help Online Help

    联机帮助 077056903
    DSA8300 Digital Serial Analyzer

    TekScope and Connectivity Software Installation Manual

    现场安装说明 071289804
    DSA8300 Digital Serial Analyzer

    TekScope and Connectivity Software Installation Manual

    现场安装说明 071289803
    DSA8300

    Instrument software restore instructions Read This First

    现场安装说明 071316200
    DSA8300 Digital Serial Analyzer

    TekScope and Connectivity Software Installation Manual

    现场安装说明 071289802
    80A00 and 82A00 Series

    Sampling Modules Read This First

    用户 071138613
    DSA8300

    Printable Online Help Online Help

    联机帮助 077056902
    DSA8300, CSA/DSA/TDS8000 Series

    Differential Channel Alignment Application Online Help

    联机帮助 077077500
    DSA8300

    Digital Serial Analyzer Programmer Manual

    程序员 077057002
    DSA8300

    Digital Serial Analyzer Programmer Manual

    程序员 077057001
    DSA83UP

    Upgrades for DSA8300 Instrument Instructions

    现场安装说明 075103702
    DSA8300

    Printable Online Help Online Help

    联机帮助 077056901
    DSA8300 and Sampling Modules

    Performance Verification Technical Reference

    性能验证 077068201
    DSA8300

    Specifications Technical Reference

    性能验证 077057100
    DSA83UP

    Upgrades for DSA8300 Instrument Instructions

    现场安装说明 075103701
    DSA8300 Digital Serial Analyzer and Modules

    Sampling Oscilloscope Service Manual

    维修 077057200
    DSA8300 Series

    Digital Serial Analyzer Quick Start User Manual

    主要用户 071289700
    DSA8300

    Digital Serial Analyzer Microsoft Windows 7 Operating System Restore Instructions

    现场安装说明 071289900
    DSA8300 Series, Rev A

    Digial Serial Analyzer Declassification and Security Instructions

    解密 077057600
  • 技术文档 文档类型 发布日期
    示波器选型指南
    泰克为许多不同应用和用途提供示波器。为帮助您根据自己的需求选择适当的示波器,下面列出了示波器选型最常用的指标,以及确定您的要求的实用技巧。
    产品选择器指南
    NRZ 和 PAM4 信令的光带宽要求
    直到最近,光带宽和电带宽产生的结果均类似,但是随着 IEEE 技术规格的最新变更,已不再存在这种情况。本白皮书阐明了这些术语,从数学层面展示了它们之间的关系,并为理解和正确计算光通道的光带宽和电带宽提供了基础。
    白皮书
    高速串行技术中的PAM4信令:测试、分析和调试
    了解与PAM4技术有关的重要信息,以及泰克验证PAM4信号属性的测试方法。本应用指南介绍了50-400G应用中的PAM4技术,详细介绍了PAM4信令,介绍了光接口和电接口发射机评估,阐述了PAM4接收机评估方法,等等。
    应用指南
    Semtech 转为采用泰克 DSA8300 采样示波器检定新 25-28 Gb/s CDR 设备
    该客户案例研究展示了 Tektronix DataCom 测试解决方案为检定 100G 技术的电气性能带来的优势,并且该解决方案具有极低的本底噪声。
    成功案例
    2016年测试测量解决方案
    泰克为您提供了三种中文版产品手册,向您介绍主要行业领域中的最新相关产品信息,即测试测量解决方案、视频产品选购指南和基础仪器指南。
    产品选择器指南
    远程探头采集改善高速串行测量
    随着高速串行数据速率不断提高,使测量余量达到最大的需求也在提高。即使质量非常好的同轴电缆也会影响测量余量。示波器远程探头提供了明显的优势,可以使信号完整性测量的余量达到最大。
    应用指南
    25 Gb/s信令测量方法
    本应用指南介绍了100 G系统中25+ Gb/s信令发射机和接收机检定和一致性测试的测量方法,重点是示波器测量,部分涉及BERT。
    应用指南
    100 Gb/s通信系统物理层测试
    本应用指南介绍了怎样准备100G标准一致性测量,包括IEEE802.3ba,以及帮助您诊断不满足标准的元器件和系统及测量性能余量的多项测试。
    应用指南
    为抖动测量选择适当的平台
    本文将阐述某些基本抖动术语,然后讨论抖动测量,以及在处理串行数据通信结构时适合评估和量化抖动的工具。
    技术简介
    《超低驱动电压硅行波调制器》(美国光学学会)
    硅平台正逐渐成为用于集成光子学的商业平台。如要直接与片上电子设备集成,需使用 1 Vpp 或更低的驱动电压。 根据来自美国光学学会的此文章,DSA8300 系列示波器正用于验证宽带调制器在 20 Gb/s 速率时(驱动电压为 0.63 Vpp)的操作。
    技术简介
    泰克DSA8200和DSA8300之间采样可编程接口的改变
    本文包含更改可编程接口(PI)的摘要。关于GPIB和TekVisa的讨论
    白皮书
    案例分析: 飞思卡尔半导体使用Tektronix IConnect®软件为发射机建模
    挑战 飞思卡尔半导体制定了一种不同于发射机建模通常所用方法的新方法。只用一个端口(TDR)给发射机建模,且假定封装和基板传输线无损。解决方案与传统建模形式不同,用Tektronix DSA8200数字信号分析仪、80E08 TDR模块和IConnect软件实施的建模被证明非常成功。Iconnect软件可帮助根据测得的TDR数据创建可见图形,同时找出其与实际测得的眼波的对应关系。优势IConnect软件的使用已使飞思卡尔半导体能直接从测量结果中提取封装的非连续性特征。除给封装建模外 …
    技术简介
    消光比(ER)校准白皮书
    本白皮书介绍了10 GbE (以太网)和SONET/SDH中高度准确的ER测量的部分好处,以及支持一致准确的ER结果的方法,其中10 GbE (以太网)对ER的要求相对较低。 
    白皮书
    泰克USB 测试解决方案
    电接口验证和一致性测试、信号路径检定、数字验证和调试、无线EVM 一致性测试
    速查资料
    泰克抖动测量2.0 解决方案
    抖动会劣化系统性能,如果您没有时间捕捉抖动,那么抖动就会影响调试工作。现在,任何高速设计都必须处理抖动,许多串行数据标准也要求进行全面抖动测试。抖动检定涉及复杂的信号分析,测量需求有的很简单,有的则非常复杂。发射机与信道之间的交互要求全面进行串行数据链路分析。不管您的具体要求是什么,泰克都使您能够迅速高效地解决设计挑战。
    速查资料
    存储测试解决方案应用速查资料
    支持所有速率的主机、设备和电缆物理层测试在存储和服务器行业中,人们一直孜孜不倦地在最低成本的基础上追求更快的数据传送速度和更大的存储容量。泰克为各种标准提供了强大完善的一系列测试仪 器,包括:SATA、SAS、InfiniBand、光纤通道、XAUI、等等。
    速查资料
    DisplayPort 一致性测试解决方案
    为迎接DisplayPort 一致性测试挑战提供强大、高效的解决方案DisplayPort 是下一代数字显示接口,通过提供高速度低针脚数解决方案,满足了更高性能的显示需求。这种新结构也带来了必须克服的新的互通和一致性设计挑战。泰克提供了完善的一系列工具,包括一致性测试软件和模拟验证工具,使您能够迅速高效地解决设计挑战。
    速查资料
    泰克接收机测试解决方案
    接收机测试给需要执行测试和检定新兴设备的设计人员带来了一个最大挑战。根本问题是"接收机在实际环境条件下是否会正确工作?"及"最坏情况下的行为是什么?"
    速查资料
    自动化技术解决一致性测试
    Interoperability and compliance concerns are commanding an ever-larger share of the serial system designer's attention. Fully automated compliance solutions are the answer. They can implement consistent test regimes while attending to the details …
    速查资料
    采用80SJNB Advanced的均衡和串行数据链路分析方法(SDLA)应用指南
    本应用指南介绍了在有损耗或者耗散的信道上运行的串行数据标准使用的测试和测量方法,在接收端这些串行数据的眼图会呈现关闭状态,使用均衡(FFE/DFE)技术可以使眼图张开。在这里还将接收端上的测量数据与发送端上的建议测量数据作一些比较,以及串行数据设计人员和测试工程师感兴趣的其它SDLA概念。
    应用指南
    TDR和S参数测量 – 您需要多高的性能?
    In this paper you will read about the accuracy requirements for serial data network analysis debug, compliance, validation, and characterization applications. In addition you will learn how TDR-based measurement tools can provide you a quicker way to …
    应用指南
    高速互连:检定基于测量的模型
    随着现代信令标准把数字设计推到千兆赫兹和千兆位水平,互连性能成为实现可靠的系统操作的关键因素。本入门手册将介绍各种挑战和解决方案,以便为互连链路的每个部分获得准确的基于测量的互连模型。您将了解时域和频域测量原理,以及怎样基于TDR/T测量建立系统性能模型,获得最高效的结果。 
    入门手册
    FB-DIMM一致性和故障排除解决方案
    本应用速查资料快速查看迎接FB-DIMM设计挑战可以使用的工具。看一下吧。
    速查资料
    使用参考接收机进行的 10 GB 以太网激光发射机测试中的变化
    电信/数据通信原始设备制造商、系统安装人员和系统服务人员在示波器上查看眼图并测试激光的时域信号质量时使用的关键工具之一是参考接收机 (RR)。本应用指南将针对两种不同类型的时域光学采样系统(其中包括泰克的参考接收机滤波器),通过一系列测量实例展示如何以及何时将它们用于 10GbE 激光发射机测试,并讨论所得的测量结果。
    应用指南
    用于测量 PCB 质量验证的串扰的时域法应用指南
    本应用指南讨论各种串扰因素,并演示如何使用 TDS8200 系列采样示波器或 CSA8200 系列通信信号分析仪来测量单层 PCB 上的串扰。
    应用指南
    高度可靠地测试10-Gb/s 系统(STM-64/OC-192)
    高度可靠地测试10-Gb/s 系统由于80C02 和80C04取样模块独特的体系结构,CSA8000 的转换增益和信噪比(SNR)改善了近两倍。这些模块还在 理想的ITU 光参考接收器(ORR)响应中实现了更加紧密的 容限。其结果,改善了测量结果的重复性,在创建10-Gb/ s发射器和网络时,在测量质量上为设计人员提供了更高 的信心。互联网、电子商务、虚拟专用网、IP电话和其它以数据为 中心的应用的迅猛增长,正促使人们要求越来越高的带 宽,而且这一势头有增无减。为跟上需求增长,网络供应 …
    应用指南
    TDR阻抗测量:信号完整性的基础
    Achieve stable and accurate TDR results with Tektronix sampling oscilloscopes.At today’s high operating frequencies, anything that affects your signal’s rise time, pulse width, timing, jitter or noise content can impact reliability at the system …
    速查资料
    SOLUTIONS FOR SCIENTIFIC AND ENGINEERING RESEARCH
    手册
    Performing RIN and RIN OMA Measurements on the DSA8300 Sampling Oscilloscope
    Detailed information on the measurement of the RIN OMA for the purpose of 10 Gb/s Ethernet, IEEE 802.3ae and similar specifications is presented, using a Tektronix DSA8300 Sampling Oscilloscope.
    应用指南
    Tektronix Helps Intel Break the 20 Gbps Cable Barrier Resulting in World’s Fastest and Longest Infiniband Cables
    Challenge - To help Intel develop and evaluate a new generation of 20 Gbps Infiniband optical cables for scaling out advanced computer clusters to distances of up to 100 metres. Solution - A Tektronix AWG7102 arbitrary waveform generator is used to …
    成功案例
    HDMI/DVI Method Of Implementation (MOI)
    This document is the Procedures Guide for HDMI Sink Instruments Differential Impedance Measurements using the Tektronix TDS/DSA8200 and Sampling Module 80E04.
    技术简介
    Case Study: Altera Finds Performance Validation of High-speed+ Configurable FPGA Required Flexible+ Power Test Instrument
    Read this customer testimonial from Altera on the performance of the CSA8200 sampling oscilloscope. 
    速查资料
    Effects of Infiniband Fixture Crosstalk on Synthesized Eye Diagram
    In working with Infiniband designs, the crosstalk that is created by attached fixtures may result in inaccurate eye diagram representation. This application note will take you through the process of de-embedding fixture crosstalk from synthesized …
    应用指南
    Ultra-low Jitter Performance with Phase-Reference Module 82A04 & TDS/CSA8200 Sampling Oscilloscope
    Introduction As more standards documents of high-speed serial data specify jitter limits, precise and repeatable timing measure- ments are becoming increasingly important and critical. Jitter budgets are becoming tighter, and jitter …
    应用指南
    Eye Measurements on Optical RZ Signals
    This technical brief describes several automatic eye measurements for RZ signals contained in Tektronix' DSA8200 sampling oscilloscope. Examples of real signals are presented, as well as guidelines to ensure valid test results. A method of building …
    技术简介
    Finding and Examining Pattern-dependent Failures with FrameScan™ Acquisition Technology
    As bit rates increase to 10 Gbps and beyond, pattern-dependent failures become much more common in the generation, transmission, and reception of signals in various data and communication products and systems. Unfortunately with traditional test …
    应用指南
    System Extends InfiniBand Cable Reach To 100 m
    产品文章
    Test methodologies for high-speed serial designs
    产品文章
    Sequential-sampling scopes+ TDR challenge VNAs
    产品文章
    Tests Show That Optical Infiniband Cable Performance Exceeds Copper
    技术简介
    Two good test probes are all you need
    技术简介
    Tektronix unveils fastest scope probe yet
    产品文章
  • See how to conduct PAM-4 Analysis using PPG3204 Pattern Generator and DSA8300 Sampling Oscilloscope on multi-level eye diagrams.
    时长:
    Watch Tektronix experts as they provide a brief overview of test technologies being demonstrated on 100G components, transceivers and systems for the Datacom and Long Haul Networking Design …
    时长:
    During ECOC 2014, Tektronix demonstrated 56 Gb/s Eye Diagram analysis on a DSA8300 Sampling Oscillocope.
    时长: 2m 10s
    This webinar reviews TDR basics and the ability to create S-parameters using TDR/TDT measurements to validate high speed channels for debug or de-embedding in a Serial Data Link Analysis …
    时长: 21m 50s
    With PAM4 moving into production and 400G design efforts in full swing, the test challenges around characterization, verification and debug, and manufacturing testing have never been greater. This …
    时长: 18m 33s
    Learn how more margin and higher yields are made possible with lowest optical noise, highest sensitivity solution available today. See comprehensive characterization – TDECQ accuracy and …
    时长: 1m 33s
    At OFC 2018 it’s not just about speed but also interoperability both between standards and among equipment vendors. Here Tek’s Pavel Zivny showcases a demonstration system with a Tektronix DSA8300 …
    时长: 3m 27s
    At this booth, we're demonstrating our DS8300 Digital Sampling Oscilloscope including new PAM4 software modules. 
    时长: 2m 10s
    View this demonstration of interoperability at OFC2013 using Tektronix DSA8300 Sampling Oscilloscope and BSA286C BERTScope. Tektronix assisted the Optical Internetworking Forum (OIF) and member …
    时长: 4m 56s
    Designing and developing 100G components, modules and systems requires the latest tools and techniques. In this video, you'll learn how to:Set up a complete system for active optical cable …
    时长: 2m 7s